MA645

Объектив MA645 изготовлен в соответствии с высочайшими японскими стандартами качества и оптики с использованием конструкции объектива с конечными трубками F=160 мм. Н/Д 0,85 F.L. 2,90 мм, диаметр 0,38 Разработан для удовлетворения самых передовых требований к поляризации и геологической визуализации. Этот объектив представляет собой кульминацию японской оптической технологии Meiji Techno, созданной специально для наших серий ML9000, ML9400 и ML9700. Этот объектив предлагает повышенную яркость и максимально возможную числовую апертуру в своем классе для максимальной способности собирать свет. Предназначен для коррекции боковых и осевых хроматических аберраций по всему полю зрения. Этот объектив создает плоские, четкие и четкие изображения с высокой контрастностью и оптическим разрешением. Эта цель работает с широким спектром приложений. Заявленное увеличение основано на тубусе объектива 160 мм. Стандартная монтажная резьба DIN: диаметр резьбы 0,7965 дюйма (20,1 мм), 36 TPI (витков на дюйм), 55° Витворта. Этот объектив совместим со всеми оптическими системами с коррекцией бесконечности.

Вертикальный составной поляризационный объектив MA645 также является опцией в наших сериях поляризационных вертикальных объективов ML9000, ML9400, ML9700.

Мы понимаем важность наличия объектива без деформации специально для использования в большинстве геологических задач, чтобы уменьшить сферическую аберрацию и нагрузку на линзу, значительно улучшив петрографический вид образца. Независимо от того, смотрите ли вы на образец минерала в тонком шлифе или интерференционные фигуры. Эти образцы просматриваются с помощью поляризационных микроскопов в минералогических, геологических, петрографических приложениях. При проектировании объективов для японских инженеров Meiji Techno крайне важно установить предельное разрешение оптического микроскопа. Важными факторами являются длина волны света, используемого для освещения образца образца, угловая апертура светового конуса, улавливаемого объективом, и, что не менее важно, показатель преломления на расстоянии объекта между передней линзой объектива и образцом. Разрешение можно измерить как минимальное обнаруживаемое расстояние между двумя близко расположенными интересующими точками образца.